Apreo 2 SEM

Apreo 2 SEM е единствения сканиращ електронен микроскоп с висока резюция 1 nm, който дава високо качество на заснемане от работна дистанция 10 мм. Микроскопът има уникалната функционалност да засича обратно разсеяните лъчи, като по този начин контрастите в материала нямат голямо значение. Обективите допълнително увеличават контраста с филтруването на енергията и подобряват визуализацията.

Притежава технология за сапоподравняване на оптиката.

Apreo 2 SEM има висока разделителна способност от 1 nm, при това с е нергия 1 kW. Няма необходимост от забавяне на лъча, без значение дали пробата е релефна или наклонена.

Контраст на материала винаги е наличен, дори и при ниски напрежения.

Широк спектър от възможности за намаляване на заряда, в това число режим на работа под нисък вакуум, намаляване на налягането до 500 Ра, което позволява визуализация на почти всеки образец.

Лесно боравене от страна на потребителя с държач, навигация и камера.

Подходящ за анализ на наночастици, прахове, катализатори, материали с магнитни свойства.