Серия Themis ETEM за изследване на материали и полупроводници

Следваща генерация микроскопия с възможност за комбинация S/TEM, която се превръща в мощен анализатор за материалознанието – анализ на химическо свързване и композити, 3D заснемане, S/TEM томография, динамични анализи, in situ анализи газ-твърди проби.

Притежава висок диапазон на ускоряващо напрежение и резолюция на ниво атом. Микроскопът притежава технология за корекция на различни смущения, за чувствителност ChemiSTEM, както и монохроматична система. В комбинация с камера 16 Мpixs се получават изображения с висока резолюция и достоверност. 

Наличие на нагреваема масичка, което спомага за анализ на смеси от компоненти с различна морфология и структура. Системата позволява запис на много сигнали едновременно, което води до получаване на високо качествени данни. 

Възможност за индивидуални настройки при всеки анализ.

Възможност за дистанцинно управление. Напълно защитен от въздействие на околната среда.