Spectra S/TEM серията обхваща група от микроскопи, приложими за анализ на различни материли и полупроводници. Това е най-бързия и приложим електронен микроскоп за този клас продукти. Комбинацията между висока яркост на източника и лесен начин на управление дава възможност за идентификация на частици с размер до 7 nm. Това е много решение за индустриални приложения.
Spectra Ultra TEM притежава възможностите на комбиниран микроскоп сканиращ и трансмисионен - S/TEM. Източникът се предлага в два варианта - със стандартна или висока яркост.
|