Quattro ESEM

Quattro ESEM прави изображения в режим на нормално атмосферно налягане (ESEM), което дава възможност за анализ на проби в тяхното естествено състояние. Универсален електронен микроскоп, който постига висока разделителнс способност до 0.8 nm. Аналитичната камера на Quattro ESEM може едновременно да поддържа EDS детектори, EDS/EBSD детектори и WDS детектори.

Без значение от вида на пробата, под висок вакуум или в комбинация с други условия, могат да бъдат получени надеждни аналитични резултати, дори и на проводими, диелектрични, влажни или високо температурни проби. Това дава възможност за приложение в университети, промишлеността или контролни лаборатории.

Източникът на електрони (FEG) осигурява висока производителност и висока резолюция в три режима на вакуум - висок, нисък и атмосферен (ESEM). Това на практика дава възможност да се анализират всякакъв вид проби. 

Източникът в комбинация с работа в атмосферен (ESEM) режим позволяват In-situ анализи на материали в тяхното естествено състояние. 

Ниският вакуум и режимът в атмосферни условия (ESEM) дават възможност да се анализират непроводящи или хидратирани образци без заряд. 

In-situ анализи в температурен обхват от -165 ⁰C до +1400 ⁰C, включително крио разработки. Пълен обхват на наклона до 105 ⁰C, за наблюдение от всяка гледна точка.

Quattro ESEM има най-различни приложения - метали, сплави, магнитни материали, супер проводими материали, керамика, филми, покрития, минерали, полимери, фармацевтични продукти, гелове, филтри, различни частици и влакна.

In situ анализи, като фазови промени, кристализация, каталитични процеси, окисление, нарастване на материали, хидратиране и дехидратиране. Динамични In Situ анализи.