Nexsa G2 Surface Analysis System

Nexsa G2 Surface Analysis System фотоелектронен спектрометър е напълно автоматизиран и съчетава различни техники за анализ. Той съдържа нов вид, микро фокусиран източник, с помощта на който се постига по-добра чувствителност и по-висока резолюция.

Системата позволява да се интегрира към нея Раман спектрометър за пълен, корелативен анализ на повърхности. 

С всички тези опции и възможности, Nexsa G2 Surface Analysis System фотоелектронен спектрометър дава възможност за нови открития в сферата на полупроводниците, 2D материалите, тънките филми, батериите, полимерите и много други приложения.

Стандартната конфигурация включва:

• Рентгенов източник с обновен дизайн;
• Двойно лъчев електронен и йонен източник;
• ЕХ06 йонен източник.

Аналитични опции:

• UV фотоелектронна спектроскопия;
• Спектроскопия с йонно разсейване;
• Спектроскопия със загуба на отразената йонна енергия;
• Раман спектроскопия;
• MAGCIS йонен източник за двоен режим на работа;
• ARXPS въртящ се модул;
• Вакуум трансферен модул.