K-Alpha X-ray Photoelectron Spectrometer System (XPS)

K-Alpha X-ray фотоелектронен спектрометър притежава високо ефективен, микро фокусиран, рентгенов монохроматор, който позволява на оператора да прецизира анализираната площ до желаната. 

Високо ефективните, електронни лещи, хемисферичния анализатор и много каналния детектор водят до по-добро съотношение сигнал/шум, по-добро детектиране и бързо обработване на получените данни. 

K-Alpha X-ray фотоелектронен спектрометър имя възможност за заснемане и получаване на химическа картина на изследваната повърхност. Малка част от повърхността може да се визуализира до размери, по-големи от реалните. Системата за оптично наблюдение има възможности, които позволяват бързо заснемане и усъвършенстване на анализа.

K-Alpha X-ray спектрометър може да представя и профил в дълбочина с помощта на автоматично оптимизиращ се източник и води до по-добра производителност.

Анализатор:

• 180⁰ двойно-фокусиращ, хемисферичен анализатор;
• Високо ефективни, йон-трансферни лещи;
• 128-канален детектор.

Рентгенов източник:

• Al Kα микрофокусиран монохроматор;
• Избираем размер на петното 50-400 µm, със стъпка 5 µm;
• Висока производителност с ниска мощност (72 W).

Йонен източник

• Обхват на енергията 200 eV - 4000 eV

Характеристики на пробата

• Поставка за проба с движение по четирите оси;
• Площ на пробата 60х60 mm;
• Максимална дебелина на пробата 20 mm.

Вакуум система

• Две турбо молекулярни помпи с дебит 260 l/sec;
• Автоматично стартиране, притежава три филамента.