Корелативен анализ с Раманова и Рентгенова фотоелектронна спектрометрия

Вижте как Raman и XPS осигуряват подобрен  анализ за съвременни/авангардни материали

В този 14-минутен уебинар ще разгледаме как Раман и XPS са по-добри заедно. Интегрирането на допълнителни техники със система за рентгенова фотоелектронна спектрометрия не е ново явление. Сродните спектроскопи като UPS, ISS и REELS са вградени в системи за повърхностен анализ в продължение на много години, подобрявайки информацията, която може да бъде получена. Със система Thermo Scientific Nexsa за повърхностен анализ, ние въведохме уникална, нова възможност за разширяване на повърхностния анализ чрез интегриране на раманова спектроскопия. Гледайте нашия уеб-семинар по заявка, за да научите как комбинацията от XPS и Raman може да доведе до нови прозрения при анализирането на съвременни материали, особено технологично значими 2D-материали като графен, бор нитрид и молибденов дисулфид.

За да получите достъп до уеб семинара е необходимо да попълните формуляр - ТУК

* X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) - Рентгенова фотоелектронна спектроскопия

* Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy (UPS) - Ултравиолетова фотоелектронна спектроскопия

* Ion scattering spectroscopy (ISS) - Спектроскопия с йонно разсейване

* Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy (REELS) - Рефлекторна електронна спектроскопия със загуба на енергия