Сканиращи електронни микроскопи – SEM > Verios G4 SEM


Verios G4 SEM
Verios Сканиращ електронен микроскоп е второ поколение с екстремно висока резолюция.
Постига “sub-nanometer” резолюция от 1 до 30 kV и необходимия контраст за прецизен анализ на полупроводникови материали, такива за научни разработки, както и рутинни изследвания.

Повече информация